EDX-LE能量色散X射線分析根據(jù)色散方法不同，X射線熒光分析儀相應分為X射線熒光光譜儀(波長色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。

 

　　EDX-LE能量色散X射線分析是確定物質(zhì)中微量元素的品種和含量的一種辦法，又稱X射線次級發(fā)射光譜分析，是運用原級X射線光子或其它微觀粒子激起待測物質(zhì)中的原子，使之發(fā)生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質(zhì)成分分析和化學態(tài)研討。

 

　　用X射線照耀試樣時，試樣可以被激起出各種波長的熒光X射線，需求把混合的X射線按波長(或能量）分隔，分別丈量不同波長(或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此運用的儀器叫X射線熒光光譜儀。

 

　　測驗對樣品有特別的要求:一般情況下只能對固體樣品進行分析，假如要測驗液體樣，也要通過處理轉(zhuǎn)化成固體后方可測驗。

 

　　常見的樣品制備辦法：在測驗時，為了盡量減少光線散射，需求對原始試樣進行切片或壓片處理以獲得外表平坦的測驗樣，同時測驗樣的長寬也要小于45mm。此外，關(guān)于材料的厚度和質(zhì)量也有約束:如塊體材料，要求輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm;而關(guān)于粉末樣品，為了獲得壓片測驗樣，一般需求至少5g干燥的粒度在200目以下的均勻粉末。